Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 Poczta Polska 18.99 Paczkomat 13.99 DPD 25.99 ORLEN Paczka 10.99

High-Frequency Characterization of Electronic Packaging

Język AngielskiAngielski
Książka Twarda
Książka High-Frequency Characterization of Electronic Packaging Luc Martens
Kod Libristo: 01397544
Wydawnictwo Springer, październik 1998
High-Frequency Characterization of Electronic Packaging will be of interest to researchers and desig... Cały opis
? points 304 b
516.53
Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 13-16 dni
Polska common.delivery_to

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


TOP
Garfield Fat Cat 3-Pack #6 Jim Davis / Miękka
common.buy 58.37
Grázlik Gabo a živá mŕtvola Francesca Simon / Miękka
common.buy 24.34
Jackknife and Bootstrap Jun Shao / Twarda
common.buy 1 766.68
Verbal Processes in Children Charles J. Brainerd / Twarda
common.buy 402.67
Self-focusing: Past and Present Robert W. Boyd / Miękka
common.buy 794.37

High-Frequency Characterization of Electronic Packaging will be of interest to researchers and designers of high-frequency electronic packaging. Understanding high-frequency behavior of packaging is of growing importance due to higher clock-speeds in computers and higher data transmission rates in broadband telecommunication systems. Basic knowledge of the high-frequency behavior of packaging and interconnects is, therefore, indispensable for the design of future telecommunication and computer systems. High-Frequency Characterization of Electronic Packaging gives the reader an insight into how high-frequency characterization of electronic packaging should be done and describes the problems that have to be tackled, especially in performing accurate measurements on modern IC-packages and in determination of circuit models. High-Frequency Characterization of Electronic Packaging is conceived as a comprehensive guide for the start of research and to help in performing high-frequency measurements. Important notions in high- frequency characterization such as S-parameters, calibration, probing, de-embedding and measurement-based modeling are explained. The described techniques are illustrated with several up-to-date examples.

Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo