Darmowa dostawa z usługą Inpost oraz Orlen od 299.00 zł
InPost 13.99 Poczta Polska 18.99 Paczkomat 13.99 DPD 25.99 ORLEN Paczka 10.99

Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology

Język AngielskiAngielski
Książka Twarda
Książka Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology Manuel Servin
Kod Libristo: 02718117
Wydawnictwo Wiley-VCH Verlag GmbH, lipiec 2014
The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applica... Cały opis
? points 368 b
625.01
Dostępna u dostawcy w małych ilościach Wysyłamy za 3-5 dni
Polska common.delivery_to

30 dni na zwrot towaru


Mogłoby Cię także zainteresować


Level 5: Heart of Darkness Joseph Conrad / Miękka
common.buy 45.40
Aloe vera MARIE MORALES / Miękka
common.buy 39.11
Variantenreiches Modellieren Darlene Olivia McElroy / Twarda
common.buy 28.93
Generalowie gina w czasie pokoju Tom 1 Krzysztof Kakolewski / Miękka
common.buy 33.12
Aprender a estudiar 1 Antonio J. Domínguez Peláez / Miękka
common.buy 71.44
John Woolman W. Teignmouth Shore / Miękka
common.buy 135.41
A Closer Look At The Evidence Richard L. Kleiss / Miękka
common.buy 52.88
Spiridion George Sand / Twarda
common.buy 204.27
Der innere Aspekt des sozialen Rätsels Rudolf Steiner / Miękka
common.buy 61.86
Decoding Liberation Samir Chopra / Miękka
common.buy 256.77
Poverty and the Third Way Colin C. Williams / Miękka
common.buy 285.21

The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in the field of modern fringe pattern analysis applied to optical metrology. A major novelty of this work is the presentation of a unified theoretical framework based on the Fourier description of phase shifting interferometry using the Frequency Transfer Function (FTF) along with the theory of Stochastic Process for the straightforward analysis and synthesis of phase shifting algorithms with desired properties such as spectral response, detuning and signal-to-noise robustness, harmonic rejection, etc.

Informacje o książce

Pełna nazwa Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
Język Angielski
Oprawa Książka - Twarda
Data wydania 2014
Liczba stron 344
EAN 9783527411528
ISBN 3527411526
Kod Libristo 02718117
Wydawnictwo Wiley-VCH Verlag GmbH
Waga 898
Wymiary 175 x 250 x 22
Podaruj tę książkę jeszcze dziś
To łatwe
1 Dodaj książkę do koszyka i wybierz „dostarczyć jako prezent” 2 W odpowiedzi wyślemy Ci bon 3 Książka dotrze na adres obdarowanego

Logowanie

Zaloguj się do swojego konta. Nie masz jeszcze konta Libristo? Utwórz je teraz!

 
obowiązkowe
obowiązkowe

Nie masz konta? Zyskaj korzyści konta Libristo!

Dzięki kontu Libristo będziesz mieć wszystko pod kontrolą.

Utwórz konto Libristo